4月14日，成都高新區(qū)對外披露，由電子科技大學(xué)與成都高新區(qū)聯(lián)合推進(jìn)的系統(tǒng)級集成電路檢測國家質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室（以下簡稱“實(shí)驗(yàn)室”）正式獲批，成功躋身第一批國家質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室培育建設(shè)名單，同時該實(shí)驗(yàn)室也是全國集成電路領(lǐng)域唯一的國家質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室。

該實(shí)驗(yàn)室以電子科技大學(xué)、天府絳溪實(shí)驗(yàn)室與先進(jìn)芯片測試與標(biāo)準(zhǔn)前沿研究中心“三位一體、協(xié)同創(chuàng)新”的模式推進(jìn)建設(shè)，其中先進(jìn)芯片測試與標(biāo)準(zhǔn)前沿研究中心由天府絳溪實(shí)驗(yàn)室與電子科技大學(xué)聯(lián)合成立，作為實(shí)驗(yàn)室的科研創(chuàng)新承載平臺。

實(shí)驗(yàn)室將圍繞系統(tǒng)級集成電路性能表征、測試性分析與測試生成方法、檢測技術(shù)與設(shè)備、標(biāo)準(zhǔn)制定及質(zhì)量政策等方向開展系統(tǒng)研究，重點(diǎn)突破關(guān)鍵核心技術(shù)，打破國外技術(shù)與標(biāo)準(zhǔn)壟斷，為解決集成電路產(chǎn)業(yè)測試領(lǐng)域的“卡脖子”問題提供支撐，同時著力培養(yǎng)創(chuàng)新人才、加速成果轉(zhuǎn)化，助力集成電路技術(shù)與產(chǎn)品質(zhì)量自主可控。